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| 由微处理器产生模拟信号进行故障电弧自检的方法 |
| 发明专利 |
| 申请专利号：CN200610106745.1 |
| 申请日期：2006.07.27 |
| 公开公告号：CN101114768 |
| 公开公告日：2008.01.30 |
| 主分类号：H02H3/00(2006.01 |
| 分类号：H02H3/00(2006.01)I;H02H3/02(2006.01)I |
| 国际申请： |
| 国际公布： |
| 申请人：刘浩铭 |
| 地址：518049广东省深圳市福田区碧荔花园碧荷阁A-704 |
| 发明设计人：费 青 |
| 内容摘要：本发明是一种故障电弧断路器AFCI(Arc-Fault Circuit-Interrupter)的自检方法，属于电源保护领域。本发明中，当需要对AFCI的故障电弧检测功能进行自检时，由微处理器产生一组故障电弧的模拟脉冲信号，由反馈电路送到信号采样的输入端，经运算放大器放大整形后，将该模拟脉冲信号送回微处理器的输入端，由程序来进行处理和判断，确认该信号为故障电弧后，微处理器发出控制信号使AFCI的执行系统动作，断开电源，完成AFCI故障电弧的自检过程。本发明主要用于检测AFCI的故障电弧信号处理通道、微处理器的故障电弧诊断程序、可控硅执行电路及机械脱扣部分。 |
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