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实时监测处理器内部状态的装置

发明专利

申请专利号：CN200610118443.6

申请日期：2006.11.17

公开公告号：CN101187892

公开公告日：2008.05.28

主分类号：G06F11/32(2006.0

分类号：G06F11/32(2006.01)I

国际申请：

国际公布：

申请人：上海高性能集成电路设计中心

地址：201204上海市浦东新区张衡路428号

发明设计人：胡向东;董建萍

内容摘要：本发明公开了一种实时监测微处理器内部状态的装置，在所述微处理器设计过程中，加入多个或多级局部监测器和一个全局监测器，将所述微处理器内部状态信息以固定周期循环串行输出到一位监测状态输出端口上；外部系统配置一个监测信号采集器，在所述微处理器的监测状态输出端口上采集信号，并通过移位寄存器，拼接为具有实际意义的处理器内部状态信息，最终显示在前端PC机上。本发明通过在微处理器设计阶段增加少量的硬件开销，支持芯片实际运行模式下对微处理器内部状态的实时可观察性，弥补了传统的芯片可测性设计技术的不足。

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