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确定最小操作电压的自测试电路

发明专利

申请专利号：CN200680016188.2

申请日期：2006.05.11

公开公告号：CN101176009

公开公告日：2008.05.07

主分类号：G01R31/28(2006.0

分类号：G01R31/28(2006.01)I

国际申请：

国际公布：

申请人：国际商业机器公司

地址：美国纽约

发明设计人：瓦格迪·W·阿巴迪尔;乔治·M·布雷塞拉斯;安东尼·R·博纳西奥;凯文·W·戈尔曼

内容摘要：用于根据性能/功率要求确定最小操作电压的解决方案将对于广阔范围内的实际使用都有效。该解决方案包括用于通过BIST电路(50)动态降低在应用条件下的功率消耗而保持应用性能的测试流程方法。另外提供了用于在应用条件下动态降低功率消耗到仍将足够维持数据/状态信息的最低的可能待机/很低的功率级的测试流程方法。一种可能的应用被用来控制对ASIC(特定用途集成电路)上的一组特殊电路的电压供应(25)。在电压岛(20)中这些电路被集合成组，接收可能与相同芯片上的其他电路正在接收的电压供应不同的电压供应(25)。能够将相同的解决方案应用于微处理器(例如，高速缓存逻辑电路组)的部分。

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