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一种用于并行计算机系统的带外诊断测试接口及测试方法 |
发明专利 |
申请专利号:CN200710192607.4 |
申请日期:2007.12.14 |
公开公告号:CN101183321 |
公开公告日:2008.05.21 |
主分类号:G06F11/00(2006.0 |
分类号:G06F11/00(2006.01)I |
国际申请: |
国际公布: |
申请人:中国人民解放军国防科学技术大学 |
地址:410073湖南省长沙市砚瓦池正街47号中国人民解放军国防科学技术大学计算机学院计算机研究所 |
发明设计人:蒋句平;田宝华;郑明玲;屈婉霞;窦 勇;庞征斌;曹跃胜;李永进;刘 军;邓让钰;吴 宏;谢伦国 |
内容摘要:本发明公开了一种用于并行计算机系统的带外诊断测试接口及测试方法,它包括外部连接端口单元和内部诊断测试逻辑单元,所述外部连接端口单元包括边界扫描测试访问端口TAP和与微处理器相连的RS232串行接口,所述内部诊断测试逻辑单元包括诊断测试指令寄存器、诊断测试数据寄存器、主机指令寄存器、主机数据寄存器、系统内部错误和状态寄存器、TAP控制器、诊断测试逻辑控制器、串口控制器以及中断控制逻辑单元。本发明是一种结构简单、操作简便、可靠性和稳定性高的用于并行计算机系统的带外诊断测试接口及测试方法。 |
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