高新技术产业数据库

一种用CCD测量光强突变位置的检测电路

实用新型专利

申请专利号：CN200720075330.2

申请日期：2007.10.09

公开公告号：CN201075031

公开公告日：2008.06.18

主分类号：G01J1/44(2006.0

分类号：G01J1/44(2006.01)I;G08C17/02(2006.01)I;G08C19/00(2006.01)I;H04L

国际申请：

国际公布：

申请人：上海光子光电传感设备有限公司

地址：200233上海市桂林路396号15号楼1层

发明设计人：方华;李弢;张太会

内容摘要：一种用CCD测量光强突变位置的检测电路，包括信号光源、线阵CCD器件、 A/D转换器、CPLD驱动控制电路、微处理器控制电路和外围终端模块，其特征在于：所述线阵CCD器件感光面接收信号光源光线的照射，CPLD驱动控制电路产生的工作时序与线阵CCD器件电连接，线阵CCD器件输出依次与运算放大器、A/D 转换器电连接，所述A/D转换器输出通过CPLD驱动控制电路的数据与指令通道，依次与后端微处理器控制电路、外围终端模块电连接。本实用新型的有益效果是：线阵CCD具有像素数多、像素尺寸小、速度快、测量精度高、价格低等特点，实现一维尺寸测量和定位精度高，并具有自动进行温度补偿的功能。

详细内容请点击全文下载...

全文下载