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| 厚膜电路性能检测台架 |
| 实用新型专利 |
| 申请专利号：CN200720104288.2 |
| 申请日期：2007.04.17 |
| 公开公告号：CN201035123 |
| 公开公告日：2008.03.12 |
| 主分类号：G01R31/28(2006. |
| 分类号：G01R31/28(2006.01)I |
| 国际申请： |
| 国际公布： |
| 申请人：中国石油天然气集团公司;中国石油 |
| 地址：100724北京市西城区六铺炕街6号 |
| 发明设计人：钮 宏;毛小民 |
| 内容摘要：厚膜电路性能检测台架，用于Eilog-05系列测井仪上使用的厚膜电路进行性能检测。包括：检测台架面板、厚膜电路块专用插板、辅助电路插板、计算机、示波器、标准信号源、高温烘箱七个部分。特征是：在检测台架面板内部的电路中有滤波电路组、继电器开关组、多路选择开关、输入输出信号比较器、增益控制器、A/D转换器、微处理器、通信接口控制器、DTB接口和交直流电源块电路。各单元电路以插件的方式，安装在面板内部的印刷线路板上。效果是：能完成Eilog-05系列测井仪上使用的厚膜电路的性能检测，可以筛选出质量合格的厚膜电路，提供性能优良的厚膜电路用于Eilog-05系列测井仪的制造和维修。 |
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