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高介电、抗还原陶瓷材料及其制备的陶瓷电容器 |
发明专利 |
申请专利号:CN200310117578.7 |
申请日期:2003.12.29 |
公开公告号:CN1635592 |
公开公告日:2005.07.06 |
主分类号:H01G4/12 |
分类号:H01G4/12;H01G4/30;H01G4/008;H01B3/12;C04B35/01 |
国际申请: |
国际公布: |
申请人:广东风华高新科技集团有限公司 |
地址:526020广东省肇庆市风华路18号风华电子城 |
发明设计人:付振晓;王作华;聂小明;王孝东;司留启;任海东;曹英;莫方策 |
内容摘要:本发明公开了一种高介电、抗还原陶瓷材料及其制备的多层片式电容器。本发明陶瓷材料的其组成按重量百分比计为:主晶相(Ba1-xCax)a(Ti1-yZry)O3:97~99%,其中,0.12≤x≤0.20,0.10≤y≤0.40,1.002≤a≤1.02,而且a为(BaO+CaO)/(TiO2+ZrO2)值;以及0.8~8.20%的辅助成分,该辅助成分为选自Y2O3、MnO2、Yb2O3、ZnO、SiO2、Nb2O5中的一种或几种。本发明还提供了一种采用高介电、抗还原陶瓷材料以及采用贱金属作为内电极材料的电容器。 |
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