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在真空状态下制备高纯度钛硅碳陶瓷粉体的方法 |
发明专利 |
申请专利号:CN200510086689.5 |
申请日期:2005.10.21 |
公开公告号:CN1778767 |
公开公告日:2006.05.31 |
主分类号:C04B35/515(2006. |
分类号:C04B35/515(2006.01)I;C04B35/56(2006.01)I;C04B35/626(2006.01)I |
国际申请: |
国际公布: |
申请人:清华大学 |
地址:100084北京市北京100084-82信箱 |
发明设计人:潘 伟;韩若冰 |
内容摘要:在真空状态下制备高纯度钛硅碳陶瓷粉体的方法,属于高性能陶瓷材料技术领域。其特征在于:以TiC粉、Ti粉、Si粉为原料,按照摩尔比TiC∶Ti∶Si=2∶(1~1.3)∶(1.1~1.5) 的比例配料,球磨混合,烘干过筛后,放入氧化铝坩埚中,置于真空反应炉,预抽真空至5~ 20Pa,以不大于50℃/分钟的升温速度升温至1300~1400℃,在1300~1400℃范围内真空下保温1~2小时,自然冷却至室温,得到Ti3SiC2相含量大于97%的钛硅碳(Ti3SiC2)陶瓷粉体。该方法工艺简单,成本较低,制备钛硅碳(Ti3SiC2)粉体纯度高,适合规模化工业生产。 |
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