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改进负温度系数热敏材料均匀性的热处理方法
发明专利

 
申请专利号:CN200710025644.6
申请日期:2007.08.10
公开公告号:CN101139205
公开公告日:2008.03.12
主分类号:C04B35/622(2006.01)I
分类号:C04B35/622(2006.01)I
国际申请:
国际公布:
申请人:合肥三晶电子有限公司;中国科学技术大学
地址:230088安徽省合肥市高新区香樟大道212号
发明设计人:赵春花;王忠兵;陈初升;杨萍华;刘原平
 
内容摘要:本发明改进负温度系数热敏材料均匀性的热处理方法,特征是将经烧结后的负温度系数热敏电阻陶瓷材料切割成厚度为0.2-0.5mm的薄片,以3-10℃/min的升温速度加热到烧结温度,并在此温度保温5-10h,再随炉冷却至室温。经过本发明方法热处理,可有效降低陶瓷材料在烧结过程中引入的不均匀性。与没有经过热处理的陶瓷片相比,由经过本发明方法热处理后的陶瓷片制得的热敏电阻元件阻值在±1%以内的成品率大大提高。
 
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