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| 占空比测量装置和方法 |
| 发明专利 |
| 申请专利号：CN200610135798.6 |
| 申请日期：2006.10.20 |
| 公开公告号：CN1955936 |
| 公开公告日：2007.05.02 |
| 主分类号：G06F11/00(2006.0 |
| 分类号：G06F11/00(2006.01)I |
| 国际申请： |
| 国际公布： |
| 申请人：国际商业机器公司 |
| 地址：美国纽约 |
| 发明设计人：D·W·伯斯特勒;E·艾吕;齐洁明 |
| 内容摘要：本发明提供了一种用于测量集成电路器件(如微处理器或片上系统) 中的检测信号的占空比的装置。所述装置生成与所述占空比成比例且可以用普通实验室或制造设备测量的频率。所述装置可以使用标准互补金属氧化物半导体工艺中的简单电路来实现，它只需要很小的面积且在不用时可以断开电源。所述装置可以包括例如低通滤波器、用于提供校准参考电压信号的分压器、电压到频率转换器、用于分频频率信号输出以便所述信号频率处于预定范围内的分频器以及输出驱动器和输出衬垫。根据所述频率输出信号，可以使用片外设备来计算所述检测信号的占空比。 |
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