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用于处理存储阵列中的缺陷的方法和系统

发明专利

申请专利号：CN200610137542.9

申请日期：2006.10.25

公开公告号：CN1956101

公开公告日：2007.05.02

主分类号：G11C29/00(2006.0

分类号：G11C29/00(2006.01)I

国际申请：

国际公布：

申请人：国际商业机器公司

地址：美国纽约

发明设计人：R·J·彭宁顿;H·舍恩;K·L·赖特;W·R·洛克伍德

内容摘要：一种通过以下步骤纠正诸如高速缓冲存储器之类的微处理器的存储阵列中的缺陷的方法：操作所述微处理器以执行利用高速缓冲存储器的功能测试过程；在所述功能测试过程期间在跟踪阵列中收集缺陷数据；使用所述缺陷数据标识所述高速缓冲存储器中的缺陷的位置；以及通过设置熔丝以将对所述位置的访问请求重新选路至冗余元件来修复所述缺陷。所述缺陷数据可以包括错误并发位和缺陷地址。所述功能测试过程使用基于随机种子的测试模式产生引起所述高速缓冲存储器中变化的业务负荷的随机高速缓存存取序列。可以在设置某些所述熔丝的所述微处理器的非功能内建自测试完成后执行所述功能测试过程。

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