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| 一种用于数字信号处理器的调试系统及其调试方法 |
| 发明专利 |
| 申请专利号:CN200710039862.5 |
| 申请日期:2007.04.24 |
| 公开公告号:CN101042671 |
| 公开公告日:2007.09.26 |
| 主分类号:G06F11/36(2006.0 |
| 分类号:G06F11/36(2006.01)I |
| 国际申请: |
| 国际公布: |
| 申请人:上海华龙信息技术开发中心 |
| 地址:201203上海市浦东新区春晓路439号11号楼 |
| 发明设计人:刘春晖;李兴仁;金荣伟;林锦麟;张达文;杨一茜 |
| 内容摘要:本发明公开了一种用于数字信号处理器的调试系统及其调试方法。该调试系统由于只与处理器的外部调试接口和处理器内的程序流控制单元连接,并不与处理器内部的寄存器文件组,存储器管理单元(MMU)以及内部存储器有总线连接和资源交互,所以该调试系统不会侵占任何处理器内部的系统资源,即对系统资源的消耗和占用也十分有限,这样不会带来额外的系统总线复杂度的上升。同时其采用指令插入式的方式简化了调试系统的结构,还降低了整个系统的开发难度。更需指出的是本发明调试系统所形成的调试方法同样适用于不同数字信号处理器和微处理器的调试系统,具有广泛的普遍的应用性。 |
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