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| 按键寿命测试系统及方法 |
| 发明专利 |
| 申请专利号：CN200510037500.3 |
| 申请日期：2005.09.23 |
| 公开公告号：CN1936615 |
| 公开公告日：2007.03.28 |
| 主分类号：G01R31/327(2006. |
| 分类号：G01R31/327(2006.01)I |
| 国际申请： |
| 国际公布： |
| 申请人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 地址：518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 |
| 发明设计人：黄登聪 兰军 吴自然 |
| 内容摘要：本发明提供一种按键寿命测试系统，该系统包括：一按键输入模块、一单片机、一液晶显示模块、一气压调节器、至少一电磁阀及至少一直动气缸。其中按键输入模块用于接收开启和关闭测试系统的指令，及接收测试所需设定的参数。单片机包括一微处理器及一应用程序，该微处理器可调用并执行应用程序以向电磁阀下达控制指令。液晶显示模块用于显示所设定的测试总次数及正在进行的测试次数。气压调节器通过电磁阀给直动气缸供应所需气压使其上下运动，以控制按键盘上的按键上下运动来进行按键寿命的测试。本发明还提供一种按键寿命测试方法。本发明利用单片机架构代替PC架构，具备速度调节功能及断电保护功能，且应用灵活方便。 |
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