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可同时测试多个待测芯片的测试装置以及单颗芯片测试机

实用新型专利

申请专利号：CN200520141897.6

申请日期：2005.11.25

公开公告号：CN2872379

公开公告日：2007.02.21

主分类号：G01R31/28(2006.0

分类号：G01R31/28(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I

国际申请：

国际公布：

申请人：普诚科技股份有限公司

地址：台湾台北县新店市宝桥路233-1号2楼

发明设计人：滕贞勇;许益彰;许丽娇

内容摘要：一种可同时测试多个待测芯片的测试装置以及单颗芯片测试机。该测试装置包括一单颗芯片测试机以及一支持器。该单颗芯片测试机包括一模式存储器以及一微处理器，该模式存储器包括多个模式子存储器，用来分别对该多个待测芯片进行功能模式测试以产生对应于该多个待测芯片的一测试结果；该微处理器用来控制测试的进行并且依据该测试结果产生一接口控制信号。该支持器耦接于该测试机，用来启动该微处理器进行测试，并且接收该接口控制信号以完成置于该支持器上的该多个待测芯片的测试。该测试装置同时具有单颗芯片测试机低成本及多颗芯片测试机较短测试时间的优势。

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