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一种在指令级随机测试中支持EJTAG测试的实现方法

发明专利

申请专利号：CN200510086445.7

申请日期：2005.09.20

公开公告号：CN1936860

公开公告日：2007.03.28

主分类号：G06F11/36(2006.

分类号：G06F11/36(2006.01)I

国际申请：

国际公布：

申请人：中国科学院计算技术研究所

地址：100080北京市海淀区中关村科学院南路6号

发明设计人：沈海华王朋宇胡伟武

内容摘要：本发明公开了一种在指令级随机测试中支持EJTAG测试的方法，包括步骤：a) 在指令库中添加EJTAG调试指令SDBBP/DRET；b)在指令模版中添加调试指令相关的约束；c)对指令级随机测试产生引擎进行改进；d)在指令级模拟器中加入调试指令SDBBP/DRET的执行机制，同时添加调试控制寄存器；e)在仿真环境中加入信号输入、输出和比较逻辑；f)在仿真环境提供的存储器中预存EJTAG调试例外处理程序。本发明对传统的指令级随机测试技术进行有效改造，在保持传统指令级随机测试优势的同时，有效支持包含EJTAG片上交叉调试器的微处理器核的测试和验证。

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